摘要：国家知识产权局信息显示，上海国微芯芯半导体有限公司申请一项名为“集成电路可测性及测试点插入方法、装置、设备、介质”的专利，公开号CN 119375805 A，申请日期为2024年10月。

金融界2025年1月30日消息，国家知识产权局信息显示，上海国微芯芯半导体有限公司申请一项名为“集成电路可测性及测试点插入方法、装置、设备、介质”的专利，公开号CN 119375805 A，申请日期为2024年10月。

专利摘要显示，本申请提

供一种集成电路可测

性及测试点插入方法、

装置、设备、介质，应用

于集成电路可测性设

计领域，其中先判断路

径上存在的违例设置

类型(如“‑from”、

“‑

through”、

“‑to”之中

的一种或多种组合)，然后根据不同的时序违例设置，来采取不

同的测试点插入策略：对于“‑from”和“‑through”设置，在最后

一个非“‑to”的路径后插入测试点，从而利用测试点来阻止X态

向后传播；而对于“‑to”设置，则将相关电路节点mask掉(掩藏

或者说屏蔽)，以控制X态不影响后续测试。在插入测试点后，可

以显著降低自动化测试向量生成的推导难度、运行时间和向量

数量，同时提高测试覆盖率，具有广泛的适用性和操作性。

天眼查资料显示，上海国微芯芯半导体有限公司，成立于2019年，位于上海市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币，实缴资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海国微芯芯半导体有限公司参与招投标项目1次，知识产权方面有商标信息1条，专利信息15条，此外企业还拥有行政许可2个。

来源：金融界