摘要：设备状态：非运行态（Non-Running State），常处于停滞状态（Halted），仅需施加电源（Power）和接地（Ground），无需外部时钟或输入信号。本质目标：在无动态行为的条件下，检测器件的物理特性和直流参数，识别设计弱点或制造缺陷。

一、Static Analysis（静态分析）

设备状态：非运行态（Non-Running State），常处于停滞状态（Halted），仅需施加电源（Power） 和 接地（Ground），无需外部时钟或输入信号。
本质目标：在无动态行为的条件下，检测器件的物理特性和直流参数，识别设计弱点或制造缺陷。

二、Dynamic Analysis（动态分析）

设备状态：全功能运行态，需施加时钟信号（Clocking）、输入向量（Cycling Vectors），并执行循环测试（Looping Test）。
本质目标：验证器件在实时工作条件下的时序特性、逻辑功能及长期稳定性。

三、核心差异对比表