摘要：Micro LED具相当大商业潜力，随之而来是设备、芯片检测商机。在TrendForce举办的Micro LEDforum 2024研讨会，Instrument Systems产品经理Tobias SteinEL讨论了显示器和芯片上每个Micro LED的Mi

Micro LED具相当大商业潜力，随之而来是设备、芯片检测商机。在TrendForce举办的Micro LEDforum 2024研讨会，Instrument Systems产品经理Tobias SteinEL讨论了显示器和芯片上每个Micro LED的Micro LED计量、分析面临之挑战及解决方案。

Tobias Steinel介绍如何以单发射器分辨率对显示器、芯片上的电致发光（Electroluminescence，EL）、光致发光（Photoluminescence，PL）进行测量与分析，并提供使用Instrument Systems测量设备的量产PL芯片测试仪预览。

Tobias Steinel指出，在Micro LED（µLED）芯片测试中，使用LumiTop对芯片的光致发光、电致发光进行2D测量可得到类似积分球测量的结果，但速度比积分球测量快许多，目前速度约5～20分钟，具体取决于芯片尺寸及含有多少Micro LED。

LumiTop系列显示器测试系统针对生产品质优化，该系统包含一个LumiTop成像色度测量仪、一个CAS系列高端光谱仪、一个光电二极管，这种组合能在一个测试站执行所有相关光学测试，最重要的测试变量包括：显示器均匀性测量（亮度和色度）、缺陷检测（Mura）、伽玛指数测定、闪烁和亮度调节。

Tobias Steinel展示了该公司设备如何采用同轴方法，通过物镜直接将光线照射到芯片，同时将芯片的光致发光以同轴方式直接发送到相机。

这些适用于Micro LED显示器和芯片的高速、高精度光学计量也可在VR显示器、微型显示器上操作，测量准确性对于最终品质非常重要， Tobias Steinel说，他们的设备相机非常准确，能减少测量不确定性并让客户获得更好生产良率。

来源：十轮网一点号