摘要：在当今的材料科学与相关工业领域，薄膜厚度作为一个至关重要的参数，对于薄膜产品的质量评估起着决定性作用。它不仅直接关联着薄膜的力学性能、阻隔性能以及透光性能等关键特性，还广泛应用于塑料、包装、电子、光学等众多行业。准确测量薄膜厚度，成为确保产品质量和性能的关键环

在当今的材料科学与相关工业领域，薄膜厚度作为一个至关重要的参数，对于薄膜产品的质量评估起着决定性作用。它不仅直接关联着薄膜的力学性能、阻隔性能以及透光性能等关键特性，还广泛应用于塑料、包装、电子、光学等众多行业。准确测量薄膜厚度，成为确保产品质量和性能的关键环节。

一、机械接触法

机械接触法是薄膜厚度测量领域中较早被采用的一种方法。其基本原理是通过精确测量薄膜与探头之间的机械位移来确定薄膜的厚度。在实际应用中，常见的设备有薄膜测厚仪等。例如，景颐光电的薄膜测厚仪，其凭借简单直接的操作方式，在薄膜加工和制造业中得到了广泛应用。然而，这种方法存在一定的局限性，即在测量过程中可能会对薄膜表面造成损坏，进而影响测量的精度。

二、光学法

光学法作为一种非接触式的薄膜厚度测量技术，其依据光的干涉、反射、折射等原理，通过精确测量光的强度、相位或偏振等参数来推算薄膜的厚度。这种方法具有高精度、非接触以及快速测量等显著优点，在薄膜科学、光学工程等领域展现出了强大的应用价值。景颐光电的光学反射膜厚仪FILMTHICK-Mapping，便是这一技术的典型代表。