马克斯·普朗克固态研究所Adv. Mater.:

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摘要:马克斯·普朗克固态研究所Markus Burghard,Yuhan Sun,日本理研中心Max T. Birch发表了题为“Localized Spin Textures Stabilized by Geometry-Induced Strain in 2D

马克斯·普朗克固态研究所Markus Burghard,Yuhan Sun,日本理研中心Max T. Birch发表了题为“Localized Spin Textures Stabilized by Geometry-Induced Strain in 2D Magnet Fe3GeTe2”的工作于Advanced Materials期刊上。本文通过微柱阵列引入几何诱导应变,结合高分辨率扫描透射X射线显微镜(STXM),首次直接观测到二维铁磁材料 Fe₃GeTe₂(FGT)在局域应变下的磁响应。研究发现:应变效应:微柱边缘的剪切应变(≈0.5%)使居里温度(TC)局部提升10 K;拓扑自旋织构:在柱角处稳定了斯格明子(skyrmions)、斯格明子ium(skyrmioniums)及斯格明子袋(skyrmion bags);调控机制:应变通过改变晶格对称性和交换相互作用路径,为自旋织构提供能量有利的成核位点。

研究背景

vdW磁体(如 FGT、CrI₃)因其层间弱耦合特性,易于通过电场、应变等调控磁序。既往研究集中于全局应变(单轴/双轴)对磁性的影响(如 TC变化),局域应变对自旋织构的作用尚未探索。金属性、层间铁磁序(块体TC ≈ 220 K);可承载拓扑自旋织构(斯格明子等),但需低温或强磁场稳定。

研究思路

在 Si₃N₄ 基底上制备铝微柱阵列(边长 1–6 μm),将 FGT 薄片(155 nm)压印至柱顶,通过 vdW 作用产生局域应变。AFM 拓扑分析 → 计算应变张量;Raman 光谱 → E²2g 模红移(0.6 cm⁻¹)证实 0.5% 拉伸应变;COMSOL 模拟 → 柱角剪切应变集中。STXM 结合 XMCD → 空间分辨 *m*z(面外磁化分量);绘制磁场-温度相图 → 分析应变区域的自旋织构演化。 局域应变调控TC:STXM 显示柱角处磁序持续至 255 K(块体 TC = 212 K),提升 10 K。拉伸应变增加 Fe-Te-Fe 键角→增强铁磁超交换作用。 拓扑自旋织构的应变稳定:在 217 K/0 mT 下,柱角处观测到斯格明子ium和斯格明子袋。高应变区(HS)的斯格明子相区扩大,且直径增大。 剪切应变的关键作用:AFM/COMSOL 显示柱角剪切应变(≈0.4%)打破晶格对称性;FGT 适度弯曲(vs. 石墨烯)保留剪切应变,促进拓扑态形成。 结论几何诱导应变(尤其剪切分量)可局域调控 FGT 的磁序,提升 TC并稳定拓扑自旋织构。微柱角作为“磁学纳米反应器”,为自旋电子器件(如赛道存储器、逻辑门)提供可控成核位点。 图1a) FGT 晶体结构侧视图。b) 块体 FGT 在 30 mT 磁场下面外(紫)与面内(橙)磁化强度-温度曲线。c) 应变 FGT 器件示意图:Si₃N₄ 膜上预制铝微柱(边长 1/2/4/6 μm),压印 FGT 薄片。d) 含铝柱的 Si₃N₄ 膜上 FGT 薄片光学显微图,红框为 STXM 成像区域(标尺:10 μm)。e-g) 218 K、0 mT 下 ROI 的磁织构 STXM 图像(铝柱边长 1/2/4 μm;标尺:1 μm)。 图2a) FGT 薄片在微柱阵列上的 AFM 形貌图(标尺:10 μm)。b,c) 由 AFM 数据计算的平面拉伸应变 (b) 和剪切应变 (c) 分布(标尺:5 μm)。d) 平面拉伸应变(上)与剪切应变(下)的晶格畸变示意图。e,f) 模拟的平面法向应变 (e) 和剪切应变 (f) 分布(标尺:5 μm)。g) 跨越 4 μm 铝柱的 FGT 拉曼光谱(虚线标示模式红移)。h) E²2g 模跨越柱边缘的位置变化(误差棒为拟合置信区间)。 图3a) 2 μm 铝柱上 FGT 薄片在 230 K 的 X 射线显微图(标尺:500 nm)。b) 柱角磁化放大图,白线为等 *m*z线。c-g) 不同温度下的 STXM 图像(标尺:500 nm)。h) 150 K 下 FGT 的 X 射线吸收谱(左旋圆偏振,±250 mT),差值给出 XMCD 信号。i) 三个 ROI 的面外磁化强度随温度变化。 图4a-p) 2 μm 铝柱上 FGT 在不同温度(200/217/220 K)和磁场(-250 至 250 mT)下的 X 射线显微图。红圈标示斯格明子ium (i) 和斯格明子袋 (k)(标尺:1 μm)。 图5a-c) 低/中/高应变区的磁相图(UM=均匀磁化;SD=条带畴;Sk=斯格明子;SkM=斯格明子ium)。d) 217 K/0 mT 下 FGT 的 X 射线显微图,绿/黄/红框为低/中/高应变区(标尺:1 μm)。e-g) 213/215/217 K 下低应变(绿)与高应变(红)区的斯格明子数量随磁场变化。 文献:

来源:凝雪与水星

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