摘要：金融界 2024 年 11 月 30 日消息，国家知识产权局信息显示，艾博纳微纳米科技（江苏）有限责任公司申请一项名为“TERS 与 IR-SSNOM 结合用于光谱分析的方法”的专利，公开号 CN 119044143 A，申请日期为 2024 年 8 月。

金融界 2024 年 11 月 30 日消息，国家知识产权局信息显示，艾博纳微纳米科技（江苏）有限责任公司申请一项名为“TERS 与 IR-SSNOM 结合用于光谱分析的方法”的专利，公开号 CN 119044143 A，申请日期为 2024 年 8 月。

专利摘要显示，本发明是通过如下的技术方案来实现：TERS 与 IR‑SSNOM 结合用于光谱分析的方法，包括提供 TERS 所需激光的激光光源系统、提供 IR‑SSNOM 所需红外激光的红外激光光源系统、扫描探针、用于放置和定位待测样品的样品台、用于检测和分析 TERS 和 IR‑SSNOM 信号的光谱仪以及数据处理系统，扫描探针的针尖用于 TERS 检测，红外探针用于 IR‑SSNOM 检测。本发明优点在于，集成的扫描探针系统能够在同一探针上实现 TERS 和 IR‑SSNOM 的检测模式切换，从而解决了现有技术中需要分别使用不同探针进行两种检测的问题，提高了检测效率和数据一致性，同时通过结合 TERS 的高灵敏度和 IR‑SSNOM 的高空间分辨率，设备能够提供纳米级的高精度光谱分析，从而有效提升了检测精度和信噪比，适用于更广泛的纳米材料分析应用。

来源：金融界