摘要：国家知识产权局信息显示，贵州中芯微电子科技有限公司申请一项名为“集成电路单片机全自动测试方法”的专利，公开号CN120064926A，申请日期为2023年11月。

金融界2025年6月2日消息，国家知识产权局信息显示，贵州中芯微电子科技有限公司申请一项名为“集成电路单片机全自动测试方法”的专利，公开号CN120064926A，申请日期为2023年11月。

专利摘要显示，本发明公开集成电路单片机全自动测试方法，涉及电路测试领域。该集成电路单片机全自动测试方法，包括如下步骤，组装检测装置，接上电源开机进入开机界面，开机确认测试机自检是否通过，自检PASS才可使用点击OS测试进入下一步，fail则重新操作，进入下一步界面选择产品测试通道，点击需要选择的通道数后会进入下测试模式选择，选择测所有项目进入脚位二极管对GND扫描，扫描结果正常点击确定进入下一步，否则排查原因，点击确定后进入测试界面，显示测试结果。

来源：金融界