摘要：国家知识产权局信息显示，湖南进芯电子科技有限公司申请一项名为“一种适用于提高MCU自检覆盖率的方法及系统”的专利，公开号 CN 119127595 A，申请日期为2024年11月。

金融界2024年12月18日消息，国家知识产权局信息显示，湖南进芯电子科技有限公司申请一项名为“一种适用于提高MCU自检覆盖率的方法及系统”的专利，公开号 CN 119127595 A，申请日期为2024年11月。

专利摘要显示，本发明涉及MCU自检技术领域，具体涉及一种适用于提高MCU自检覆盖率的方法及系统，包括以下步骤：评估MCU模块特性与功能，设定输入输出向量，选择自检组合模块；上电复位，Boot ROM跳转至Flash自检程序，测试自检组合模块；配置X-BAY，启动输入输出及组合测试，配置回环模式，启动回环测试；配置模拟通道选择开关电路，启动ADC与DAC及其他模拟通道的组合测试；通过串口获取测试结果。本发明模块自检灵活、可靠、覆盖率高，无需额外硬件支持，可单芯片自检，不影响外围电路，集成软硬件，提供可靠性与安全性，降低用户开发难度。

来源：金融界