聚焦离子束扫描电子显微镜(Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope，简称FIB-SEM)，通常被称为双束电镜（DB,Dual Beam），是一种集成了离子束加工和电子束成像的双束显微系统，具有高分辨率的成像能力

fib 离子束 离子源 冷冻fib ebsd 2025-04-04 09:38  2