一文详解半导体芯片失效分析及案例
针对进口器件采购及使用过程中遇到的仿冒、翻新问题，为验证和鉴别器件的标识、材料、结构、芯片版图和制造质量是否符合原厂规定或工艺特征，通过对采购批抽取器件样本的方式，采用系列试验对器件进行检查和分析，并对识别为非原厂工艺（假冒/后期翻新/改标等）的样品批进行剔除
analysis
陶哲轩：感谢Lean，我又重写了20年前经典教材！
昨天，他还在惊叹于谷歌 DeepMind AlphaEvolve 对解决人类数学问题（比如和差集问题）起到的加速作用。更早的时候，他还开通了油管账号，当起了视频博主。
诚邀投稿｜第八届中国模式识别与计算机视觉大会（PRCV 2025）
第八届中国模式识别与计算机视觉学术会议（PRCV 2025）将于2025年10月16日-19日在上海国家会展中心举办。PRCV是国内模式识别和计算机视觉领域顶级学术盛会，也是国际上重要且受到国际学术界认可会议，进入CCF分区 (CCF-C)。本届会议投稿截止时