半导体制造的量子贝叶斯推断
该研究通过分析晶圆仓位图上的缺陷模式来解决半导体芯片制造中的错误。它引入了一种改进的贝叶斯推理方法，以加速错误模式识别，从而增强芯片良率分析。该算法在实际问题中的执行速度比传统方法更快，凸显了其在优化制造工艺方面的实用价值。
模式识别
诚邀投稿｜第八届中国模式识别与计算机视觉大会（PRCV 2025）
第八届中国模式识别与计算机视觉学术会议（PRCV 2025）将于2025年10月16日-19日在上海国家会展中心举办。PRCV是国内模式识别和计算机视觉领域顶级学术盛会，也是国际上重要且受到国际学术界认可会议，进入CCF分区 (CCF-C)。本届会议投稿截止时
【七月|京都】第三届机器学习与模式识别国际会议（MLPR 2025）
2025年第三届机器学习与模式识别国际会议 (MLPR 2025) 将于 2025 年 7 月 25 日至27日在日本京都举行。本会旨在为世界各地的研究学者，工程师和科学家提供一个机器学习与模式识别及其相关领域的技术进步展示和研究成果发布交流的国际会议平台。