光刻

晶圆翘曲对光刻工艺的影响及多维度控制策略

随着芯片制程不断缩小,光刻对晶圆平整度要求达到纳米级,而内部应力失衡或材料热膨胀系数失配引发的翘曲,会导致光刻对准失效、图形畸变等问题。今天我们将深入剖析晶圆翘曲在光刻工艺中的作用机制,系统阐述材料、工艺与检测等方面的控制策略,并结合实际案例,探索突破这一技术

策略 光刻 晶圆 工艺 光刻工艺 2025-05-15 11:41  1