成都铭科思申请可完全重配置的 JESD204B 接口 ADC 测试装置及测试方法专利,最大程度通用化了相关设计

B站影视 2024-11-30 20:12 1

摘要:金融界 2024 年 11 月 30 日消息,国家知识产权局信息显示,成都铭科思微电子技术有限责任公司申请一项名为“一种可完全重配置的 JESD204B 接口 ADC 测试装置及测试方法”的专利,公开号 CN 119046076 A,申请日期为 2024 年

金融界 2024 年 11 月 30 日消息,国家知识产权局信息显示,成都铭科思微电子技术有限责任公司申请一项名为“一种可完全重配置的 JESD204B 接口 ADC 测试装置及测试方法”的专利,公开号 CN 119046076 A,申请日期为 2024 年 10 月。

专利摘要显示,本发明涉及高速数据采集、芯片测试技术等领域,公开了一种可完全重配置的 JESD204B 接口 ADC 测试装置及测试方法,测试装置能够与上位机及信号源相配合进行 JESD204B 接口 ADC 测试,包括 FPGA 母板、带芯片测试夹具的 FMC 子卡、开关矩阵电路、集成至 FPGA 母板或 FMC 子卡上或独立存在的 JESD204B 时钟生成电路;FPGA 母板上设置有 XilinxFPGA、与 XilinxFPGA 连接的 DDR4 内存、以太网 PHY 及网络接口和 GPIO 与供电接口 A;FPGA 母板与 FMC 子卡通过 FMC 接口可拆卸连接;开关矩阵电路上的 GPIO 与供电接口和 FPGA 母板上的 GPIO 与供电接口 A 通过线缆连接;针对已有方案的缺陷,最大程度的通用化了 JESD204B 接口 ADC 器件配置、数据采集 FPGA 测试驱动程序及后端应用层数据映射的设计。

来源:金融界

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