紫光同芯微电子申请用于拼接存储器寻址错误的检测专利,提高了芯片拼接 PFLASH 寻址错误的诊断覆盖度 金融界 2025 年 4 月 17 日消息,国家知识产权局信息显示,紫光同芯微电子有限公司申请一项名为“用于拼接存储器寻址错误的检测电路”的专利,公开号 CN 119832967 A,申请日期为 2024 年 12 月。 存储器 紫光 寻址 寻址错误 存储器寻址 2025-04-17 18:11 2