FIB制样的优缺点
TEM的样品种类分为粉末试样、薄膜试样、表面复型和萃取复型。①粉末式样：主要用于粉末材料的形貌观察、颗粒度的测定及结构与成分分析等；②薄膜试样：样品内部的组织、结构、成分、位错组态和密度、相取向关系等；③表面复型和萃取复型：金相组织观察、断口形貌、形变条纹、第
复型
透射电镜与 FIB 制样技术解析
薄膜试样则侧重于研究样品内部的组织、结构、成分、位错组态和密度、相取向关系等。表面复型和萃取复型主要用于金相组织观察、断口形貌、形变条纹、第二相形态、分布和结构等方面的分析。
TEM的样品种类分为粉末试样、薄膜试样、表面复型和萃取复型。①粉末式样：主要用于粉末材料的形貌观察、颗粒度的测定及结构与成分分析等；②薄膜试样：样品内部的组织、结构、成分、位错组态和密度、相取向关系等；③表面复型和萃取复型：金相组织观察、断口形貌、形变条纹、第
薄膜试样则侧重于研究样品内部的组织、结构、成分、位错组态和密度、相取向关系等。表面复型和萃取复型主要用于金相组织观察、断口形貌、形变条纹、第二相形态、分布和结构等方面的分析。