制样

透射电镜与 FIB 制样技术解析

薄膜试样则侧重于研究样品内部的组织、结构、成分、位错组态和密度、相取向关系等。表面复型和萃取复型主要用于金相组织观察、断口形貌、形变条纹、第二相形态、分布和结构等方面的分析。