场效应

TEL(东京电子 )超越1nm

将涵盖那些能够推动逻辑晶体管和互连技术持续向1nm节点及更先进制程演进的工艺技术。衡量逻辑密度的关键指标是 “逻辑单元宽度 × 逻辑单元高度” 的乘积。栅极间距的微缩是逻辑单元宽度微缩的关键因素。为实现这一点,栅极长度、栅极侧壁宽度和接触特征尺寸的微缩是必要的

东京 场效应 栅极 1nm pdn 2025-04-01 13:26  2

芯片巨头们,亮相下一张“王牌”

它是在巨大的进步飞跃基础上发展起来的,年复一年地积累,其发展速度可能超过历史上任何其他行业。国际电子器件制造会议(IEDM)是芯片制造商展示这一进展的关键平台之一。会议论文主题涵盖从具有商业相关性的,到那些最终可能具有商业相关性的,以及其他一些可能不具备商业相

芯片 场效应 栅极 2025-02-06 18:49  6

TSMC的互补型场效应晶体管(CFET)技术

半导体行业在晶体管架构方面经历了显著的演变。从传统平面设计到FinFET,再到更先进的架构,每一次转变都源于对更好性能和持续缩放的追求。本文探讨这一发展历程中的突破——互补型场效应晶体管(CFET)技术。

场效应 晶体管 cfet 2025-01-13 09:41  9

黑砷烯多光谱集成场效应晶体管,助力高分辨率成像与增强安全通信

随着现代通信技术的发展,对宽带、室温红外和太赫兹(THz)探测器的需求迅速增长。这些探测器在电信、安全检查、非破坏性测试和医学诊断等领域有着至关重要的应用。然而,现有的光探测器面临着诸如高本征暗电流和需要低温冷却等挑战,这些限制了它们在探测低能光子方面的效率。

场效应 晶体管 光谱 2025-01-10 07:07  10