基于深度学习的点扫描超分辨率成像
点扫描成像系统是高分辨率细胞和组织成像中使用最广泛的工具之一，点扫描系统的分辨率、速度、样本保存和信噪比很难同时优化。研究表明，可以通过对点扫描系统上采集的欠采样图像使用基于深度学习的超级采样来缓解这些限制，称之为点扫描超分辨率(point-scanning
双线性插值
合肥君正科技申请优化双线性插值和最近邻插值锯齿化方法专利 消除锯齿
国家知识产权局信息显示，合肥君正科技有限公司申请一项名为“一种优化双线性插值和最近邻插值锯齿化的方法”的专利，公开号CN120031736A，申请日期为2023年11月。