新加坡国立大学欧阳建勇团队《AFM》：地形扫描电子显微镜揭示材料的三维表面结构
扫描电子显微镜（SEM）是一种在学术界和工业界都非常流行的技术，用于分析各种材料的表面形貌。它要求在非导电样品上沉积像金这样的金属薄膜，以防电荷积聚影响成像效果。但是，金膜溅射沿垂直方向的不连续和自身纳米晶粒结构，导致SEM图像不能提供沿样品垂直方向的信息也不
扫描电子显微镜（SEM）是一种在学术界和工业界都非常流行的技术，用于分析各种材料的表面形貌。它要求在非导电样品上沉积像金这样的金属薄膜，以防电荷积聚影响成像效果。但是，金膜溅射沿垂直方向的不连续和自身纳米晶粒结构，导致SEM图像不能提供沿样品垂直方向的信息也不