聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）的用途
FIB-SEM系统通过聚焦离子束（FIB）和扫描电子显微镜（SEM）两种互补技术，实现了材料的高精度成像与加工。FIB技术利用电透镜将液态金属离子源产生的离子束加速并聚焦，作用于样品表面，可实现纳米级的铣削、沉积、注入和成像操作。这种技术能够对样品进行精确的微
扫描电子显微镜
新加坡国立大学欧阳建勇团队《AFM》：地形扫描电子显微镜揭示材料的三维表面结构
扫描电子显微镜（SEM）是一种在学术界和工业界都非常流行的技术，用于分析各种材料的表面形貌。它要求在非导电样品上沉积像金这样的金属薄膜，以防电荷积聚影响成像效果。但是，金膜溅射沿垂直方向的不连续和自身纳米晶粒结构，导致SEM图像不能提供沿样品垂直方向的信息也不