p-GaN栅HEMT器件在负栅压阻断态下的重离子辐照 可靠性实验研究
近日,电子科技大学功率集成技术实验室罗小蓉教授团队联合华润微电子(重庆)有限公司,在学术期刊IEEE Electron Device Letters发表了一篇名为Experimental Study of Heavy Ion Irradiation Hardn
近日,电子科技大学功率集成技术实验室罗小蓉教授团队联合华润微电子(重庆)有限公司,在学术期刊IEEE Electron Device Letters发表了一篇名为Experimental Study of Heavy Ion Irradiation Hardn
半导体产业网获悉:近日,电子科技大学功率集成技术实验室罗小蓉教授团队联合华润微电子(重庆)有限公司,在学术期刊IEEE Electron Device Letters发表了一篇名为Experimental Study of Heavy Ion Irradiat
本文由帕多瓦大学的G. Meneghesso教授和E. Zanoni教授等人合作撰写。本文针对当前及下一代电力电子领域中市售的碳化硅(SiC)与氮化镓(GaN)晶体管进行了全面综述与展望。首先讨论了GaN与SiC器件的材料特性及结构差异。基于对市售GaN与Si