摘要：国家知识产权局信息显示，忆月启函（成都）科技有限公司申请一项名为“基于弱监督的芯片表面缺陷检测方法及装置、相关产品”的专利，公开号CN 119067921 A，申请日期为2024年8月。

金融界2024年12月5日消息，国家知识产权局信息显示，忆月启函（成都）科技有限公司申请一项名为“基于弱监督的芯片表面缺陷检测方法及装置、相关产品”的专利，公开号CN 119067921 A，申请日期为2024年8月。

专利摘要显示，本发明实施例涉及一种基于弱监督的芯片表面缺陷检测方法及装置、相关产品，方法包括获取芯片表面的样本数据；对正样本数据进行细粒度标注，细粒度标注包括芯片的缺陷类别标识、缺陷部位标注点及其属性和标注框信息；在已标注的正样本数据和负样本数据中随机选取预设数量的样本数据，生成训练集、验证集和测试集；构建基于主网络和注意力网络的网络模型；其中主网络和注意力网络均包括ResNet卷积网络和特征融合网络；网络模型的总损失函数包括主网络损失、注意力网络损失和像素损失；通过训练集对网络模型进行训练，生成缺陷检测模型；通过验证集和测试集对缺陷检测模型分别进行调参和测试，若性能满足预设要求，则缺陷检测模型构建完成。

来源：金融界