FIB系统的结构及其实际应用
双束聚焦离子束显微镜的关键在于其双束技术，离子束（FIB）用于样品的精确切割和蚀刻，而电子束（SEM）则捕捉样品的高分辨率图像。SEM垂直安装，FIB则以一定角度倾斜安装，两者之间形成52°的夹角，这种设计使得SEM能够提供高达100万倍的放大倍数，有效弥补了
离子束
FIB为什么要用液态镓来做离子源？
FIB，全名Focused Ion Beam，聚焦离子束，在芯片制造中十分重要。主要有四大功能：结构切割，线路修改，观察，TEM制样等。
聚焦离子束显微镜（FIB-SEM）：原理与应用解析
聚焦离子束显微镜（FIB-SEM）是一种将聚焦离子束（FIB）与扫描电子显微镜（SEM）技术完美结合的综合性工具，具有高分辨率的成像能力和精确的微加工能力，成为现代科学研究与工业应用中的关键设备。