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X-Ray点料方案的全流程-善思科技

在电子制造业,物料管理一直是生产效率和成本控制的核心痛点。传统的人工盘点不仅效率低下,还容易因错料、混料、漏料导致巨额损失。而X-Ray点料方案,通过智能成像、MES系统集成和自动化流程,正在彻底改变这一局面。

mes 引脚 bga 锡球 善思 2025-03-28 03:14  1

端侧设备的智能升级之路上,佰维BGA SSD将带来哪些突破?

在端侧智能化升级浪潮中,产品形态持续向微型化、高集成演进,设备系统面临物理空间压缩与算力激增的双重挑战。佰维存储数年来在存储技术研发、先进封装工艺等领域的大力投入,使其在存储解决方案的小型化、高集成化技术方面拥有多类型产品布局、自研专利技术、生产制造与供应链体

智能 ssd bga bgassd ep410bga 2025-03-17 17:07  5

手机扩容技术风险与优化策略?

现代智能手机采用 SoC 集成存储架构,存储芯片通过 BGA(球栅阵列)封装焊接在主板上。扩容本质是将原存储芯片(如 eMMC 5.1 或 UFS 3.1)替换为更大容量的芯片。根据 JEDEC 标准,存储芯片的读写速度由接口协议、NAND 闪存类型(SLC/

手机 策略 风险 bga 分区表 2025-03-14 19:35  3

薄型PCB:BGA封装面临的挑战

在电气设计过程中,需要做出某些设计选择。其中一个例子是使用跨接式连接器的USB C型连接器设计。在这种情况下,使用跨接式连接器时,PCB的整体厚度受到限制,因为跨接式连接器的厚度决定了整体厚度。基于历史缘由,标准PCB厚度为0.063in(1.57mm)。

pcb bga bga封装 2025-02-04 10:32  5

适用于高密度封装的失效分析技术及其应用

高密度封装技术在近些年迅猛发展,同时也给失效分析过程带来新的挑战。常规的失效分析手段难以满足结构复杂、线宽微小的高密度封装分析需求,需要针对具体分析对象对分析手法进行调整和改进。介绍了X射线、计算机辅助层析成像(CT)技术、微探针和多方法联用等失效分析技术,分

封装 探针台 bga 2025-02-03 21:30  7

X-RAY与SAT:深度对比测试全解析

由高速电子撞击物质的原子产生,是一种频率极高、波长极短、能量很大的电磁波。当 X 射线穿透物体时,因物体内部不同结构和材料对其吸收程度不同,在探测器上形成明暗不同的影像,从而呈现出物体内部的结构信息。

sat bga 声阻抗 2025-02-01 09:59  7