分享:基于聚焦离子双束电镜的透射电镜微柱试样制备
为了更好地研究材料在微观尺寸下的变形机制,众多学者开始采用微柱压缩试验来研究材料的微观力学性能[1]。其中透射电子显微镜(TEM)是研究材料微观结构及其元素分布的重要设备,利用TEM可对微柱内部发生的变形进行观察,因此TEM微柱试样的制备质量对TEM表征有较大
为了更好地研究材料在微观尺寸下的变形机制,众多学者开始采用微柱压缩试验来研究材料的微观力学性能[1]。其中透射电子显微镜(TEM)是研究材料微观结构及其元素分布的重要设备,利用TEM可对微柱内部发生的变形进行观察,因此TEM微柱试样的制备质量对TEM表征有较大