Science | 事件响应（Event-responsive）扫描透射电子显微术
扫描透射电子显微镜(STEM)技术在近年来取得了显著进展，这主要得益于电子光学系统、探测器技术的革新。这种先进的显微技术通过电子束对样品进行扫描，并利用多个探测器同步采集各类信号，实现了对材料多维度特性的表征。
扫描透射电子显微镜(STEM)技术在近年来取得了显著进展，这主要得益于电子光学系统、探测器技术的革新。这种先进的显微技术通过电子束对样品进行扫描，并利用多个探测器同步采集各类信号，实现了对材料多维度特性的表征。