湖北长江万润半导体申请优化的存储器量产RDT测试方法及存储介质专利,改善现有RDT测试问题 国家知识产权局信息显示,湖北长江万润半导体技术有限公司申请一项名为“一种优化的存储器量产RDT测试方法及存储介质”的专利,公开号CN 119274639 A,申请日期为2024年11月。 存储介质 rdt rdt测试 2025-01-22 15:12 3