横店东磁申请在半导体衬底材料表面形成氧化铝钝化膜等相关专利,提高PERC电池的光电转换效率
国家知识产权局信息显示,横店集团东磁股份有限公司申请一项名为“在半导体衬底材料表面形成氧化铝钝化膜的方法、PERC电池及其制备方法”的专利,公开号CN120035247A,申请日期为2023年11月。
国家知识产权局信息显示,横店集团东磁股份有限公司申请一项名为“在半导体衬底材料表面形成氧化铝钝化膜的方法、PERC电池及其制备方法”的专利,公开号CN120035247A,申请日期为2023年11月。
国家知识产权局信息显示,上海新硅聚合半导体有限公司申请一项名为“一种半导体衬底结构的形成方法及半导体衬底结构”的专利,公开号CN119987054A,申请日期为2025年1月。
金融界 2025 年 5 月 15 日消息,国家知识产权局信息显示,上海新硅聚合半导体有限公司申请一项名为“一种半导体衬底结构的形成方法及半导体衬底结构”的专利,公开号 CN119987053A,申请日期为 2025 年 1 月。