上海新昇半导体申请硅片及硅片的形成方法专利,阻挡硅片边缘滑移缺陷传播 国家知识产权局信息显示,上海新昇半导体科技有限公司申请一项名为“硅片及硅片的形成方法”的专利,公开号CN 119082865 A,申请日期为2024年6月。 半导体 硅片 硅片边缘 2024-12-07 17:42 3